ICHERO 最先进的芯片测试实验室内部

显微镜

我们的实验室配备了高倍显微镜，使我们能够在微观水平上检查芯片。这使我们能够识别可能影响芯片性能的缺陷和其他问题。

探测站

探测站用于对芯片进行电气测试。这些站点配备了专门的探针，可用于测试芯片的电气特性并识别任何潜在问题。

X光设备

X 射线设备用于检查芯片是否存在传统显微镜无法看到的内部缺陷，例如裂纹或空洞。我们的实验室配备了高功率X光设备，可以提供芯片内部结构的详细图像。

环境试验箱

环境测试室用于使芯片经受一系列不同的环境条件，例如高温、潮湿和极冷。这使我们能够在各种条件下评估芯片的性能并识别任何潜在问题。

自动化测试设备

自动化测试设备用于对芯片进行范围广泛的测试，包括功能测试、电气测试和性能测试。该设备旨在快速高效地运行，使我们能够在短时间内测试大量芯片。

老化设备

老化设备用于使芯片长时间承受高温和其他应力。这使我们能够识别随时间推移可能出现的任何潜在问题，例如性能下降或可靠性问题。

数据分析软件

除了我们实验室使用的物理设备外，我们还利用复杂的数据分析软件来处理和解释我们的测试结果。该软件使我们能够快速识别问题并向我们的客户提供详细报告。

在 ICHERO，我们致力于为我们的客户提供最高水平的服务和质量。我们的实验室配备了最新的工具和技术，以确保准确可靠的测试结果，我们经验丰富的专业团队致力于为我们的客户提供卓越的服务和支持。立即联系我们，详细了解我们的芯片测试服务以及我们如何帮助确保您产品的质量和可靠性。